Surveyor ZS-Series

Escáner 3D con los más altos estándares de precisión y Operación automatizada.

El ZS-Series establece un nuevo estándar para la precisión y facilidad de uso en la medición 3D. Los sistemas están disponibles en muchos tamaños para adaptarse a diferentes tipos de piezas y aplicaciones. Los sistemas Surveyor ZS Series tienen la clasificación CE, haciéndolo una opción ideal para los clientes de todo el mundo. Con su completo sistema altamente automatizado, puedes rápida y fácilmente escanear; formas prismáticas simples, geometrías, Superficies de forma libre u objetos de forma completa, para aplicaciones de inspección, análisis o de ingeniería inversa.

zs series

Características:

  • Diseño Premium y Precisión: Líder mundial de la precisión, integrados con escáneres láser, rápidos y ultra precisos con la mejor tecnología
  • Exploración Automatizada: Con cabezal Renishaw PH10 y opciones de mesas rotativa con alta precisión permiten una operación sin supervisión.
  • Múltiples Aplicaciones: Amplia gama de   opciones de escaneo laser o medición por palpación para la inspección y la ingeniería inversa.
  • Panel estándar de control motorizado: Panel con pantalla LCD y teclado para mejor usabilidad y mejores funciones.
  • Sistema de precisión: Cuenta con una de las precisiones más altas de la industria 0.011MM.
  • Doble Sensor: Los láser SLP cuentan con dos cámaras para recolectar la información simultáneamente, ayudando a reducir el tiempo del proceso.

Surveyors

Especificaciones :

  • Alta Precisión +/- 0,00038 “(0.011MM)
  • 3,4,5,6 Ejes programables
  • inspección Automatizada
  • Fácil de configurar
  • Laser 3D / de palpación
  • NIST / ISO 17025
  • Calibración automática
  • Monitoreo por iPad

El sistema de escaneo de la ZS-Series ofrece una excelente estabilidad y rigidez a través de la tecnología anti-vibración, mientras se escanea a la máxima velocidad y aceleración. Con su tecnología patentada de línea laser reduces drásticamente el tiempo de escaneo mediante la recopilación de datos,más rápido que con  los métodos convencionales de metrología.

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